產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
儲能電介質(zhì)充放電測試系統簡(jiǎn)介
儲能電介質(zhì)充放電測試系統采用特殊高壓開(kāi)關(guān)，通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程，開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短；
詳情介紹：
儲能電介質(zhì)充放電測試系統
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
華測Huace-DCS10KV儲能電介質(zhì)充放電系統采用**設計的電容放電電路來(lái)測量，測試電路如下圖所示。在該電路中，首先將介電膜充電到給定電壓，之后通過(guò)閉合高速MOS高壓開(kāi)關(guān)，存儲在電容器膜中的能量被放電到電阻器負載。在放電過(guò)程中電壓對樣品的時(shí)間依賴(lài)性可以通過(guò)檢波器進(jìn)行記錄。介電材料的儲能性能通常取決于放電速度，可通過(guò)改變負載電阻器的電阻來(lái)調節。通常測試系統中裝了具有不同電阻的電阻器。在測試過(guò)程中，用戶(hù)需要選擇電阻器或幾個(gè)電阻器的組合獲得得所需的電阻，并將電阻器或電阻的組合連接到測試的電介質(zhì)材料。在該電路中，選擇高壓MOSFET開(kāi)關(guān)以釋放儲存的能量非常重要。該開(kāi)關(guān)限制電路的*大放電速度和*大充電電壓。本套測試系統由放電采集電路、高壓放大器或高壓直流電源和控制計算機構成。在測試中，測試人員需要通過(guò)選擇合適的電阻來(lái)確定測量的放電速度，測試樣品上的電壓可以由計算機自動(dòng)獲得。
主要參數
1、電流探頭帶寬：120MHz；
2、峰值電流：0-100A，150 A(多種電流可監測）；
3、電流采集精度：1mA；
4、高壓源模塊：3KV，5KV， 10kV，15KV多可選（電流：0-5mA）；
5、開(kāi)關(guān)適用：100萬(wàn)次，耐壓15kV；
6、溫控范圍：0-200℃；
7、溫度穩定性和精度：0.1℃；
8、測試樣品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等；
9、可以配合各種極化設備進(jìn)行多種壓電材料和介電材料的測試。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、 本系統采用特殊高壓開(kāi)關(guān)，通過(guò)單刀雙擲控制充電和放電過(guò)程，開(kāi)關(guān)可以承受10kV高壓，寄生電容小，動(dòng)作時(shí)間短；
2、 電壓10kV，電流5mA；
3、 可外接高壓放大器或高壓直流電源；
4、 通過(guò)電流探頭檢測放電電流，可達100A；
5、 可以實(shí)現欠阻尼和過(guò)阻尼兩種測試模式，欠阻尼測試時(shí)，放電回路短路，不使用電阻負載，過(guò)阻尼測試時(shí)，使用較大的高精
度無(wú)感電阻作為放電負載；
6、 可以作為一個(gè)信號源，產(chǎn)生任意波形；
7、 通過(guò)示波器采集數據，并能直接計算儲能密度；
8、 定制載樣平臺，可適用于陶瓷和薄膜樣品測試；
9、 可以進(jìn)行變溫測試，RT~200℃；
10、 可以進(jìn)行疲勞測試；
11、 還可用于極化材料之用
利用放電電路進(jìn)行測試
與P-E回滯測量類(lèi)似，在放電測試之前，應在介電材料的表面制備導電電極，
還應測量可用于估計測試的放電速度的弱場(chǎng)介電特性。因為在測試中經(jīng)常涉及
幾千伏的高電壓，所以介電材料通常浸入硅油中。測試者應該確定他們感興趣
的放電速度。放電速度可以通過(guò)樣品的低場(chǎng)電容C和負載電阻RL(RLC常數）
粗略計算。一旦確定了期望的放電速度，就可以選擇負載電阻器并將其連接到
測試樣品，然后將充電電壓施加到介電材料。一旦樣品完全充電，然后通過(guò)按
下電路盒上的放電按鈕關(guān)閉高速開(kāi)關(guān)，將儲存的能量釋放到負載電阻器，電阻
器上電壓的時(shí)間依賴(lài)性就可由計算機自動(dòng)記錄。
在此將以P（VDF-TrFE-CFE）三元共聚物（63／37／7.5）作為示例材料，來(lái)
演示如何解釋放電結果。使用上圖所示的電路，表征三元共聚物對負載電阻器
的放電行為。使用時(shí)間相關(guān)的電壓數據公式，可以計算放電能量密度的時(shí)間依
賴(lài)性。圖中顯示了三元共聚物中不同充電電場(chǎng)的1MΩ負載的放電能量密度隨
時(shí)間的變化?？偡烹娔芰棵芏扰c從單極P-E回路推導出的能量密度相當。這里
使用薄膜樣品的電容在1kHz下測量為約1nF。對幾種三元共聚物膜樣品進(jìn)行表
征發(fā)現，由于極化響應的非線(xiàn)性和頻率依賴(lài)性，三元共聚物的放電特性不能簡(jiǎn)
單地通過(guò)RC常數來(lái)描述，其中R是電阻(R=RL+ESR)
假設電容器電容不隨頻率、電場(chǎng)和RC電路的時(shí)間常數(τ=RLC+ESRXC)變化，
如果RL>ESR，可以忽略ESRXC,，則放電能量密度與時(shí)間的關(guān)系如下：
Uc(1)=UD(1-e-(21/t))
式中，UD為放電能量。
為了便于比較，使用1nF的電容和1MΩ的負載電阻，利用公式來(lái)估算能量放電
時(shí)間。70％能量釋放所需理論放電時(shí)間為0.6ms，50％能量釋放所需理論放電
時(shí)間為0.35ms。而實(shí)驗中，這兩種能量釋放所需放電時(shí)間分別為0.66ms和
0.3ms。估計值和測量值之間的差異反映了非線(xiàn)性［有效介電常數在高場(chǎng)（＞
100MV／m）變?。莺徒殡婍憫念l率依賴(lài)性（介電常數在更高頻率或更短
放電時(shí)間下變得更?。?。此外，ESR在高頻（或短放電時(shí)間）下很小，并且在
放電后時(shí)間變長(cháng)。
對于相同的三元共聚物薄膜電容器，其他負載電阻（(RLL分別為100kΩ和
1kΩ）下放電能量密度如圖所示。正如預期的那樣，減小的RL會(huì )縮短放電時(shí)
間。然而，仔細檢查實(shí)驗數據發(fā)現，放電時(shí)間的減少與RL的減少不成比例。
