產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
北京華測計算機控制電壓擊穿測試儀 HCDJC-20kv（電氣薄膜用50點(diǎn)電極法擊穿試驗儀），體積小，性能穩定。
華測電壓擊穿試驗儀（電氣薄膜用50點(diǎn)電極法擊穿試驗儀）采用計算機控制，試驗過(guò)程中可在線(xiàn)觀(guān)察試驗曲線(xiàn);自動(dòng)存儲試驗條件及試驗結果等數據，并可存取、顯示、打印。本試驗機采用立式箱體結構，節省試驗室內占地空間，地腳采用滑輪結構，方便移動(dòng)和擺放。
詳情介紹：
電氣薄膜用50點(diǎn)電極法擊穿試驗儀 HCJC-50D
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
北京華測計算機控制電壓擊穿測試儀 HCDJC-20kv，體積小，性能穩定。
華測電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，試驗過(guò)程中可在線(xiàn)觀(guān)察試驗曲線(xiàn);自動(dòng)存儲試驗條件及試驗結果等數據，并可存取、顯示、打印。本試驗機采用立式箱體結構，節省試驗室內占地空間，地腳采用滑輪結構，方便移動(dòng)和擺放。
設計要點(diǎn)：
TVS瞬間抑制防護技術(shù)
● 多級循環(huán)電壓采集技術(shù)：
材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,guo際通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。
● 低通濾波電流監測技術(shù):
高壓壓放電過(guò)程中將產(chǎn)生高頻信號。電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過(guò)程中無(wú)法將高頻信號處理時(shí)，從而造成檢測不準確。無(wú)論是采用磁通門(mén)或霍爾原理所設計的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過(guò)大，從而燒壞控制系統的采集部分。華測開(kāi)發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進(jìn)行相應處理。同流采集華測的保護模塊來(lái)保證采集精度與保護采集元件。
● 雙系統互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：
采用雙系統互鎖技術(shù)應用于電擊穿儀器，華測生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護系統，它的雙系統互鎖機制，當元器件出現問(wèn)題或單系統出現故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。
● SPWM電子升壓技術(shù)
采用SPWM電子升壓技術(shù)，這一技術(shù)具有升壓速度平穩，精度高。便于維護等優(yōu)點(diǎn)。
選擇要點(diǎn)：
操作軟件Labview系統開(kāi)發(fā)
操作便捷，人性化
技術(shù)參數：
主要配置：
應用范圍：
電壓擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣油、絕緣漆、紙板等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r(shí)間的測試。
