高溫四探針測試儀
H-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動(dòng)生成報表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電 流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導 率，配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線(xiàn)或方形四探針雙位測量。該儀器利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數據進(jìn)行雙電測分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線(xiàn)或方形四探針相比，也可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
H-800系列采用開(kāi)發(fā)電子護系統；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用SPWM 電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗數據的有效性。
H-800系統搭配Labview系統開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電 流、溫度、時(shí)間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高精準度的輸出與測量規格，保障檢測結果的品質(zhì)，適用于新材料數據的檢測。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導電功能薄膜材料、半導體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測試。針探針測試儀做了多項設計，測試過(guò)程中有過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測試過(guò)程；資料保存機制：當遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數所新開(kāi)啟動(dòng)后可恢復原有試驗數據。
產(chǎn)品應用領(lǐng)域：
多晶硅材料
█ 石墨烯材料
█ 石墨功能材料
█ 半導體材料
█ 導電功能薄膜材料
█ 鍺類(lèi)功能材料
█ 導電玻璃（ito）材料
█ 柔性透明導電薄膜
█ 其它導電材料等
系統功能：
█ 電壓、電流、溫度實(shí)時(shí)顯示
█ 自動(dòng)升壓功能
█ 循環(huán)自動(dòng)測試
█ 升溫速度可控
█ 自動(dòng)試驗報表
█ 過(guò)壓、過(guò)流、超溫報警
█ 軟件自動(dòng)升級
█ 試驗電壓、電流可調
█ 電極方便更換
█ 在線(xiàn)設備診斷
系統特點(diǎn)：
多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實(shí)現、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測試
█ 采用鉑材料作為導線(xiàn)、以減少信號衰減、提高測試精度，
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；
█ 可實(shí)現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能;
█ 溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制，使測量溫度精準；
█ 儀器可自動(dòng)計算試樣的電阻率pv;
█ 10寸觸摸屏設計，一體化設計機械結構，穩定、可靠；
█ 程控電子升壓技術(shù)，紋波更低、TVS防護系統，保證儀器安
99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
huace pro 強大的控制分析軟件。
