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半導體低壓漏電起痕試驗儀產(chǎn)品介紹
日期：2024-09-04 20:51
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摘要：半導體低壓漏電起痕試驗儀采用計算機控制，通過(guò)人機對話(huà)完成固體絕緣材料在低壓電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力。設備具備數據數顯、存儲功能、過(guò)流保護、過(guò)壓保護和門(mén)限保護功能。廣泛應用于電工電子、電器、半導體封裝和信息技術(shù)設備等領(lǐng)域，并用于電機等行業(yè)的電工用塑料、樹(shù)脂膠、絕緣漆，以及層壓板等絕緣材料的耐電弧性能測試。
半導體低壓漏電起痕試驗儀 產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品概述
耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）是根據 UL746A 、IEC60112 、IEC60335、IEC884-1、 GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92 等標準規定的模擬仿真試驗項目。耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規定液滴體積的導電液體 (0.1%NH4CL) ，用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化指數(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質(zhì)的聯(lián)合作用下，在表面（或內部）產(chǎn)生導電通道。產(chǎn)品參數
產(chǎn)品型號：HCLD-21. 試驗電壓：50V-800V可調（可選200V-1000V可調）
2. 控制方式：西門(mén)子PLC+10寸觸摸屏控制系統
3. 滴液高度：30～40mm 連續可調
4. 試驗電壓壓降：≤5%
5. 通滴液次數：0~9999次可調
6. 電極距離：4.0mm ± 0.1mm ，夾角 60°±5
7. 電極壓力：1.0±0.05N(可調)
8. 滴液間隔時(shí)間：可任意設定
9. 試驗電流量程：3A
10. 試驗艙材料：PC塑料
11. 滴液大?。海?0.0～23.0）mm3 連續可調
12. 操控方式：10寸觸摸屏
13. 電極材料：電極頭鉑金、電極桿純銀
14. 漏電判斷：電流大于0.5A并維持2秒鐘切斷
15. 試驗終止：50滴或100滴及漏電流≥ 0.5A并維持時(shí)間≥2s時(shí)自動(dòng)終止
16. 供電電源：220V 50Hz 10A
