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高低溫環(huán)境下的介電溫譜及頻譜測量
日期：2024-09-05 04:02
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摘要：高低溫介電溫譜測試儀，在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測試，系統包含高、低溫環(huán)境、阻抗分析儀、測試夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數等，同時(shí)可分析被測樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線(xiàn)，測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購；,實(shí)現了自動(dòng)完成不同環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶(hù)提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據實(shí)驗方案設計，通過(guò)測量C和D值，自動(dòng)完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線(xiàn)。
高、低溫介電測量系統用于分析寬頻、高、低溫環(huán)境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線(xiàn)，是專(zhuān)業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶(hù)通過(guò)軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線(xiàn)，高溫介電測量系統是功能材料測試必備電學(xué)性能評估設備。系統搭配Labview系統開(kāi)...
高低溫環(huán)境下的介電溫譜及頻譜測量
高低溫介電測量系統用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下被測樣品的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線(xiàn)，是專(zhuān)業(yè)從事材料介電性能、溫度弛豫、電弛豫研究的理想測試工具。用戶(hù)通過(guò)軟件可以直接得出介電間、頻率、偏壓變化的曲線(xiàn)，高溫介電測量系統是功能材料測試必備電學(xué)性能評估設備。系統搭配Labview系統開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行頻率、溫度、時(shí)間、測試項等設置，符合材料測試多樣化測試的需求。
本系統主要用于材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測試，系統包含高、低溫環(huán)境、阻抗分析儀、測試夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數等，同時(shí)可分析被測樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線(xiàn)，測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購；,實(shí)現了自動(dòng)完成不同環(huán)境下的阻抗、介電參數的測量與分析。另外，還可根據用戶(hù)提供的其他LCR品牌或型號完成定制需求。軟件可根據實(shí)驗方案設計，通過(guò)測量C和D值，自動(dòng)完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時(shí)間多維變化的曲線(xiàn)。一次測量，同時(shí)輸出，測量效率高、數據豐富多樣。
